Reliability and radiation effects in compound semiconductors
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Singapore :
World Scientific,
2010
|
| Žánr/forma: | monografie |
| ISBN: | 978-981-4277-10-5 981-4277-10-X |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Fyzický popis: | xii, 363 s. : il. |
|---|---|
| Bibliografie: | Obsahuje bibliografie a rejstřík |