Reliability and radiation effects in compound semiconductors
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Singapore :
World Scientific,
2010
|
| Žánr/forma: | monografie |
| ISBN: | 978-981-4277-10-5 981-4277-10-X |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Stav | Dílčí knihovna | Popis | Umístění | LCC signatura | Stará signatura |
|---|---|---|---|---|---|
| Volný výběr, k vypůjčení | Fond NTK | 5.NP, regál 5B/168 | QC611 .8 .C64 J64 2010 | A 47369 |