Characterizing nano-materials and devices with precision and confidence

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Korporace: Keithley Instruments, Inc.  
Médium: Program
Jazyk:angličtina
Vydáno: Cleveland : Keithley Instruments, 2011
Žánr/forma:učebnice
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Obálka
Stav Dílčí knihovna Popis Umístění LCC signatura Stará signatura
Sklad, k vypůjčení
Fond NTK Sklad EZ 0169