Microwave Impedance Measurement for Nanoelectronics

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Randus, Martin (Autor)
Další autoři: Hoffmann, Karel, 1951- (Autor) 
Médium: Článek
Zdrojový dokument: Radioengineering , Vol. 20, No. 1 (2011), s. 276-283
Jazyk:angličtina
Žánr/forma:články
ISSN:1210-2512
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Obálka
LEADER 01276naa a2200349 a 4500
001 000672600
003 CZ PrSTK
005 20110518151118.0
007 ta
008 110518s2011 xr a 000 0 eng
040 |a ABA013  |b cze 
072 7 |a 621.38  |x Elektronika  |2 Konspekt  |9 19 
080 |a 621.382.2/.3  |2 MRF 
080 |a 537-962  |2 MRF 
080 |a 621.317.33  |2 MRF 
080 |a 621.38-022.532  |2 MRF 
100 1 |a Randus, Martin  |4 aut 
245 1 0 |a Microwave Impedance Measurement for Nanoelectronics /  |c Martin Randus, Karel Hoffmann 
300 |b 14 il. 
500 |a 12 obr., 2 tabulky 
655 7 |a články  |7 fd133976  |2 czenas 
650 0 7 |a mikroelektronika  |x el  |7 psh2038  |2 psh 
650 0 7 |a nanoelektronika  |x el  |7 psh13802  |2 psh 
650 0 7 |a optoelektronika  |x el  |7 psh2075  |2 psh 
650 0 7 |a mikrovlny  |x fy  |7 psh3425  |2 psh 
650 0 7 |a impedance  |x en  |7 psh2514  |2 psh 
650 0 7 |a měření elektrických veličin  |x et  |7 psh2320  |2 psh 
650 0 7 |a polovodičové součástky  |x el  |7 psh1966  |2 psh 
700 1 |a Hoffmann, Karel,  |d 1951-  |7 ntka172583  |4 aut 
773 0 |t Radioengineering  |x 1210-2512  |g Vol. 20, No. 1 (2011), s. 276-283  |q 20:1  |9 2011 
910 |a ABA013  |t rs 
996 |a STK  |b 2660557453  |c 13/2059  |d 20130924  |f 106.67  |g R 13883/24  |v TK6540 .R333 v.20 no.1  |l 4.NP, regál 4D/113  |t 03