CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies process-aware SRAM design and test
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Dordrecht :
Springer,
2008
|
| Edice: | Frontiers in electronic testing,
v. 40 |
| Žánr/forma: | elektronické knihy |
| ISSN: | 0929-1296 ; |
| ISBN: | 978-1-4020-8363-1 (on-line) |
| Témata: | |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|