Semiconductor memories : Technology, testing, and reliability
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
New York :
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
1997
|
| ISBN: | 0-7803-1000-4 |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Stav | Dílčí knihovna | Popis | Umístění | LCC signatura | Stará signatura |
|---|---|---|---|---|---|
| Volný výběr, k vypůjčení | Fond NTK | 3.NP, regál 3A/032 | TK7895 .M4 S33 1997 | A 34745 |