Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
"zkušebnictví"
'
Přeskočit na obsah
Toggle navigation
English
Odhlásit
Jednotné přihlášení NTK
Vše
Název
Autor
Předmětové heslo
LCC signatura
Stará signatura
ISBN/ISSN
Tag
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zrušit filtry
Doporučená témata:
řízení jakosti
Autor:
McKenna, Robert G.
Zrušit filtry
Zobrazit filtry (2)
Doporučená témata:
řízení jakosti
Autor:
McKenna, Robert G.
Hlavní strana
Vyhledávání: "zkušebnictví"
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
integrované obvody
1
testování
1
zkušebnictví
1
řízení jakosti
Alternativní vyhledávání
:
zkusebnictvi »
zkusebnich
Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
"zkušebnictví"
'
, doba hledání: 0,06 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Data sestupně
Data vzestupně
Signatury
Autora
Názvu
Characterization of integrated circuit packaging materials
Vydáno:
2010
Umístění:
Načítá se...
Kniha
Načítá se...
Uloženo v:
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Sbírka
1
NTK
Médium
1
Kniha
Signatura
1
T - Technologie
Autor
McKenna, Robert G.
1
Moore, Thomas M.
Jazyk
1
angličtina
Žánr
1
monografie
Rok vydání
Od:
do:
PSH
1
integrované obvody
1
testování
1
zkušebnictví
1
řízení jakosti
×
Načítá se...