Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
"spolehlivost"
'
Přeskočit na obsah
Toggle navigation
English
Odhlásit
Jednotné přihlášení NTK
Vše
Název
Autor
Předmětové heslo
LCC signatura
Stará signatura
ISBN/ISSN
Tag
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zrušit filtry
Žánr:
autoreferáty
Autor:
Vysoké učení technické v Brně. Ústav mikroelektroniky
Zrušit filtry
Zobrazit filtry (2)
Žánr:
autoreferáty
Autor:
Vysoké učení technické v Brně. Ústav mikroelektroniky
Hlavní strana
Vyhledávání: "spolehlivost"
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
3d
1
plošné spoje
1
spolehlivost
1
Zobrazuji výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
"spolehlivost"
'
, doba hledání: 0,10 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Data sestupně
Data vzestupně
Signatury
Autora
Názvu
Design and reliability of the connection in 3D electronic systems : short version of Ph.D. thesis
Autor
Šandera, Josef, 1951-
Vydáno:
2004
Umístění:
Načítá se...
Kniha
Načítá se...
Uloženo v:
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Sbírka
1
NTK
Médium
1
Kniha
Autor
1
Szendiuch, Ivan, 1944-
Vysoké učení technické v Brně. Ústav mikroelektroniky
1
Šandera, Josef, 1951-
Jazyk
1
angličtina
Žánr
autoreferáty
Rok vydání
Od:
do:
PSH
1
3d
1
plošné spoje
1
spolehlivost
×
Načítá se...