Comparison of the Intrinsic Characteristics of LTCC and Silicon Pressure Sensors by Means of 1/f Noise Measurements
Uloženo v:
| Další autoři: | |
|---|---|
| Médium: | Článek |
| Zdrojový dokument: | Radioengineering , Vol. 22, No. 1 (2013), s. 227-232 |
| Jazyk: | angličtina |
| ISSN: | 1210-2512 |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Stav | Dílčí knihovna | Popis | Umístění | LCC signatura | Stará signatura |
|---|---|---|---|---|---|
| Volný výběr, k vypůjčení | Fond NTK | Vol.22:no.1(Part I+II)(2013) | 4.NP, regál 4D/113 | TK6540 .R333 v.22 no.1 | R 13883/33 |