Study of defects and microstructure of amorphous and microcrystalline silicon thin films and polycrystalline diamond using optical methods : Summary of Ph.D. thesis
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Korporace: | |
| Médium: | Rukopis |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Prague,
1999
|
| Žánr/forma: | disertace |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Stav | Dílčí knihovna | Popis | Umístění | LCC signatura | Stará signatura |
|---|---|---|---|---|---|
|
Sklad, do studovny
Požadavek |
Fond NTK | Sklad | K 57426/2 |